近日，電氣與電子工程師協會(IEEE)電介質及電氣絕緣學會(Dielectrics and Electrical Insulation Society, DEIS)在全球範圍内評選出了本年度的6位IEEE DEIS Graduate Fellowship獲獎者，其中，電機系4位學子獲獎，并将獲得每人5000美元的獎學金。

IEEE DEIS Graduate Fellowship由IEEE電介質及電氣絕緣學會創辦，旨在為全球從事電氣絕緣及電介質環境相關領域的研究生提供幫助。研究生的研究課題可以涵蓋包括絕緣介質，介電特性及擊穿，電荷傳輸，高電壓效應等廣泛的領域。該獎項的評估标準主要是研究生課題内容的創新性、所選主題的影響力以及研究生在獲獎期間完成目标的能力。該獎項獲獎者由DEIS教育委員會的成員讨論得出。2021年度，bevictor伟德官网電機系裴家耀、王少傑、王天宇、成桑4名博士生獲此殊榮。

裴家耀的獲獎項目為“基于電極-電介質界面工程的高溫電介質損耗抑制”，指導老師為黨智敏教授。聚合物電介質材料在高溫高場下會産生嚴重的損耗問題，裴家耀的研究課題針對這一問題，提出基于電極-電介質界面工程的高溫電介質損耗抑制方法，通過抑制界面電荷注入提高電介質材料在高溫下的充放電效率與擊穿強度。

裴家耀

王少傑的獲獎項目為“模型聚合物幫助認知納米電介質中的界面”，由何金良教授、李琦副教授共同指導。界面被認為是納米電介質性能提升的關鍵因素，該項工作提出了一種研究納米電介質界面的新策略，能夠抓取納米電介質界面的本質特征，提供對界面結構與性能的直接實驗證據，構建全新的納米電介質界面模型，并指導納米電介質的設計。

王少傑

王天宇的獲獎項目為“直接調控絕緣材料陷阱抑制表面電荷積聚的研究”，由梁曦東教授和張貴新教授共同指導。絕緣材料表面電荷積聚會導緻局部電場畸變，誘發沿面閃絡的發生，造成絕緣失效并導緻設備的損壞，其根本原因為聚合物載流子陷阱。該項工作對絕緣材料中陷阱進行了深入研究，提出通過直接調控聚合物的陷阱參數實現抑制絕緣子表面電荷積聚、提升沿面閃絡電壓的思路，并給出了可運用于實際工業中的直接調控陷阱參數的材料改性方案。

王天宇

成桑的獲獎項目為“用于高性能高溫介電材料的表面包覆型聚合物”，指導老師為李琦副教授。薄膜電容器的新興應用場景要求提升薄膜電容器的使用溫度，該項目工作通過在聚合物電介質表面沉積納米級厚度的無機絕緣層，調控電極/電介質界面處的電荷注入勢壘，抑制電荷注入，降低傳導損耗，從而大幅提升高溫絕緣特性。這一方法避免了傳統納米摻雜改性方法帶來的電介質薄膜均一性差、生産效率低等問題，具有廣闊的工業化應用前景。

成桑